National Instruments: nagyfeszültségű oszcilloszkópmodul
Megjelent: 2017. január 31.
A National Instruments (NI) új, nagy mintasebességű és felbontású, nagyfeszültségű oszcilloszkópmodult fejlesztett ki. A PXIe-5164 a nyitott, moduláris PXI-architektúrára épül, és egy felhasználó által programozható FPGA-modult is tartalmaz, amely az űr- és repüléstechnikai, védelmi fejlesztések, a félvezetőgyártás és a fizikai kutatás számára teszi lehetővé a nagyfeszültségű mérések nagy pontosságú elvégzését még nagy sebességgel változó jelek esetén is.
„Az NI PXI-oszcilloszkópjaival gyorsabban végezhetők a vizsgálatok, nagyobb a csatornasűrűség és mostantól még nagyobb a mérések rugalmassága egy nagy sávszélességet, nagy felbontást és széles bemenőfeszültség-tartományt igénylő méréstechnikai területen” – nyilatkozta Steve Warntjes, a National Instrument kutatás-fejlesztésért felelős alelnöke. – „Az új PXIe-5164 oszcilloszkópunk el tud végezni néhány olyan mérést is, amelyekre a «dobozos» műszerek nem képesek. Ha például egy nagyfeszültségű, csúcstól csúcsig 100 V-os jelet kíván megmérni a felhasználó 1 Gminta/s mintasebességgel, erre ugyanazt a műszert használhatja még az olyan finom jelrészletek vizsgálatához is, amelyek egyébként elvesznének a zajban. Mindez a modul 14-bites felbontású analóg-digitális átalakítójának köszönhető”.
A PXIe-5164 jellemzői:
-
Két 14 bites, 1 Gminta/s sebességgel mintavételezett csatorna, 400 MHz sávszélességgel
-
Két Cat-II besorolású csatorna 100 Vpp maximális bemeneti sebességgel és programozható bemeneti ofszettel, amelyek együttesen ±250 V mérési tartományt tesznek lehetővé
-
Akár 34 csatornás felépítés, kis méretben, egyetlen PXI-keretben, ha párhuzamos, nagy csatornaszámú rendszerre van szükség
-
3,2 GB/s adattovábbítási képesség a 8 sávos PCIexpress Gen 2 buszkommunikáció következtében
-
Xilinx Kintex-7-410 FPGA a felhasználói alkalmazások számára (például digitális szűrés vagy triggerelés megvalósítására) a LabVIEW-ban programozott módon.