National Instruments tanulmány a tesztelési stratégia optimalizálásáról

A National Instruments (NI) több évtized tapasztalataiból merítve vizsgálta meg az elektronikával kapcsolatos iparágakat befolyásoló irányzatokat. Eredményeit a „Kitekintés az automatizált tesztelés jövőjére – 2014” (Automated Test Outlook 2014) című elemzésében tette közzé, amely bepillantást enged a vállalat legújabb mérési technikák és módszertanok terén végzett kutatásaiba. A felsőoktatási és ipari kutatások, felhasználói fórumok és felmérések, üzleti előrejelzések és ügyfél tanácsadói testületek ajánlásainak figyelembe vételével készült tanulmány számos iparág folyamatait elemzi. Segítségével a mérnökök és vezetők a legújabb stratégiákra, valamint bevált eljárásokra építve optimalizálhatják tervezett tesztrendszerüket.

A tanulmány témakörei

Üzleti stratégia: szervezeti hatékonyság

A képzett tesztmérnökök száma egyre csökken, ezért a megfelelő személyzeti ellátottság és képzettségi szint fenntartásához a tesztelési szektor vezetőinek átgondoltabb munkaerő-felvételi rendszert és hatékonyabb beilleszkedési folyamatokat kell bevezetniük, továbbá több figyelmet kell fordítaniuk a szakmai továbbképzésekre és tréningekre a szervezeti hatékonyság fokozásához.

Architektúra: felügyelt tesztelőrendszerek

Az új technológiákkal a tesztrendszerekben elérhető funkciók tárháza is bővül. Ez lehetővé teszi e rendszerek műszaki állapotának állandó megfigyelését, ezáltal csökkentve a működési költségeket és maximalizálva a rendelkezésre állást.

Informatika: felhőalapú számítástechnika a tesztelésben

A hagyományos tesztelési eljárásrend korlátozza a jövedelmezőséget, mivel nem teszi lehetővé ideális egyensúly megteremtését a teljesítőképesség és a költségek között, továbbá nem biztosítja a pillanatnyi igények szerinti léptéklehetőséget. A felhőinformatika – az informatikai iparág más területeihez hasonlóan – az automatizált tesztelésben is megoldást adhat ezekre a jelentős kihívásokra.

Szoftver: skálázható tesztszoftver-kiépítés

A tesztrendszereket egyre gyorsabban és az erőforrások tekintetében egyre hatékonyabban kell felépíteni. Ezzel a merev, rugalmatlan megoldásokról a szoftveralapú platformokra helyeződik át a hangsúly. Az időtállóság és skálázhatóság a termékélettartam alatt és az új termékek bevezetésekor is maximalizálható.

Be- és kimenetek (I/O): az érzékelők fogalmának újraértelmezése

A termékek egyre több szenzort tartalmaznak, ami új kihívások elé állítja a tesztelési vezetőket az új technológiák és a megnövekedett igények tekintetében egyaránt. Gyorsan testre szabható megoldásokra van szükség, amelyek képesek a szenzorokkal ellátott termékek fejlődési ütemével is lépést tartani.

(A National Instruments sajtóközleménye alapján)

National Instruments Hungary Kft.
1117 Budapest
Neumann J. u. 1/E 2. em. (Infopark E ép.)
Tel.: +36 1 481 1400, fax: +36 1 203 3490
E-mail: Ez az e-mail-cím a szpemrobotok elleni védelem alatt áll. Megtekintéséhez engedélyeznie kell a JavaScript használatát.
hungary.ni.com
Szakmai tanácsadás: 06 80 204 704
Technikai kérdések: Ez az e-mail-cím a szpemrobotok elleni védelem alatt áll. Megtekintéséhez engedélyeznie kell a JavaScript használatát.

Még több National Instruments

Címkék: tesztrendszerek | tanulmány