Az NI új moduljai a félvezetők teszteléséhez
A National Instruments új PPMU- (Per-pin Parametric Measurement Unit – elektromos jellemzők kivezetésenkénti mérésére alkalmas egység) és SMU- (Source Measurement Unit – nagypontosságú mérő feszültségforrás) -modulokkal bővíti PXI-platformja képességeit, amellyel a félvezető alkatrészek karakterisztika és gyártósori tesztelésére kínál megoldást. A PPMU-val ellátott, NI PXIe-6556-jelű, 200 MHz-es, nagysebességű, digitális I/O és az NI PXIe-4140-, valamint NI PXIe-4141-jelű, négycsatornás SMU-k lehetővé teszik a teszteszközök költségeinek csökkentését, a rövidebb tesztelési időt, továbbá rugalmasabban használhatók számos vegyesjelű tesztelendő eszköz (DUT) esetén.
A digitális PPMU- és HD SMU-modulok ideálisan alkalmazhatók a félvezetőgyártás során
Az NI PXIe-6556-jelű, nagysebességű, digitális I/O-modullal a mérnökök akár 200 MHz-en mintavételezhetnek vagy generálhatnak különböző digitális jeleket, továbbá 1%-os pontossággal végezhetnek DC-paraméteres méréseket ugyanazon a kivezetésen – ezzel egyszerűsítve a vezetékezést, csökkentve a tesztelési időt és növelve a teszter hatékonyságát. Ráadásul, szinte tökéletesen kiküszöbölhetők a tesztelt eszközökhöz (DUT) vezető, eltérő vezetékhosszból, kábelnyomvonalból adódó időzítési késleltetések (timing skew), ugyanis a beépített időzítés-kalibrációs funkció segítségével ilyen eltérések ellensúlyozására az eszköz képes az időzítést automatikusan szabályozni. Az NI PXIe-6556 olyan opcióval is rendelkezik, amellyel a nagyobb precizitás érdekében bekapcsolható egy másik NI SMU-eszköz is. Ezzel a megoldással a mérnökök paraméteres méréseik során hardveres és szoftveres triggerelést is alkalmazhatnak.
Az NI PXIe-4140/41-jelű SMU-modulok PXI Express-slotonként négy SMU-csatornával rendelkeznek (egy 4U magas PXI-keretben akár 68 db SMU-csatorna is elhelyezhető), hogy egyszerűsítsék a sok kivezetéssel rendelkező eszközök tesztelését. A másodpercenkénti akár 600 000-es mintavételezési frekvencia lehetővé teszi a mérnökök számára, hogy nagyságrendekkel csökkentsék a méréshez szükséges időt, vagy rögzítsék az eszköz fontos tranziens karakterisztikáit. Ezenfelül az NI PXIe-4141-jelű modul már rendelkezik a SourceAdapt-technológia következő generációjával, amelynek segítségével a mérnökök az SMU kimenetének tetszőleges terhelésre adott válaszának természetét állíthatják be – a maximális stabilitás és minimális tranziens idők elérése érdekében. Ez hagyományos SMU-technológiákkal nem lehetséges.
Az NI LabVIEW rendszertervező szoftver használatával ezek az új PPMU- és SMU-modulok a félvezető-tesztelés területén is lehetővé teszik a moduláris, szoftveralapú megközelítést, amellyel jobb minőségben és alacsonyabb költségekkel rövidebb idő alatt végezhető a tesztelésen keresztüli validáció, karakterizáció, továbbá a termelés is gyorsítható. A LabVIEW ötvözi egymással a programozási nyelv adta rugalmasságot és a fejlett mérnöki eszközökre jellemző teljesítményt; lehetővé teszi, hogy a mérnökök egyedi igényei is teljesüljenek.
Ha többet szeretne megtudni az új termékekről, látogasson el a www.ni.com/lp/semiconductor honlapra!
A PXI jellemzői
A PXI (PCI eXtensions for Instrumentation – PCI-kiterjesztés műszerezési célokra) egy olyan – a PXI Systems Alliance (www.pxisa.org) által kezelt – nyílt specifikáció, amely a CompactPCI-szabvány alapjain egy masszív tesztelési, mérési és vezérlési célokra optimalizált platformot definiál. Az 1997-ben kialakított PXI-specifikáció alapján több mint 70 gyártó 1500-nál is több PXI-terméket kínál, amelyek kompatibilisek a CompactPCI és a CompactPCI Express ipari számítógépes szabványokkal. Továbbá olyan lehetőségeket nyújtanak, mint pl. a környezeti specifikációk, az egységes szoftver, valamint a beépített időzítés és a szinkronizáció.
National Instruments Hungary Kft.
2040 Budaörs
Puskás Tivadar u. 14. 1. em.
Tel.: +36 23 448 900
Fax: +36 23 501 589
E-mail:
http://hungary.ni.com
Szakmai tanácsadás: 06 80 204 704
Technikai kérdések:
