Megjelent: 2017. május 19.
Az NI-RFmx 2.2 verzióval akár 33%-kal is rövidebb a mérési idő
A National Instruments (NI), a mérnökök és tudósok számára a legösszetettebb tervezési problémákat áthidaló, platform-alapú rendszereket kínáló vállalat megjelentette NI-RFmx 2.2 jelű, PXI-alapú rádiófrekvenciás tesztelő rendszerekhez kidolgozott, fejlett mérőszoftverének legfrissebb változatát.
Megjelent: 2017. május 18.
Jelen cikkünk a harmadik abban a sorban, amelyre Dr. James Truchard, a National Instruments (NI) nemrég nyugalomba vonult elnök-vezérigazgatója hívta fel a figyelmet. E cikkek eredetileg az NI Automated Test Outlook című vállalati szakkiadványában jelentek meg. Megjelenésük dátuma szerint talán nem „frissek”, de tartalmuk aktualitását tekintve mindenképpen azok.
Megjelent: 2017. május 18.
Az elektromágneses zavarok (EMI) szűrése a kapcsolóüzemű teljesítményelektronikák nélkülözhetetlen funkciója. A nagyobb üzemi feszültségekhez az EMI-szűrőelemeknek is alkalmazkodniuk kell. A Würth Elektronik termékei megfelelnek a kihívásnak.
Megjelent: 2017. május 18.
A folyadékkristály-kijelzők fejlődéstörténete
Cikksorozatunk előző fejezetében részletesen ismertettük az IPS technológia innovációs folyamatát meghatározó típusváltozatokat. Hangsúlyozottan ugyanolyan fontossággal bír egy másik aktív mátrix TFT LCD technológia, a VA (Vertical Alignment), amelynek a kijelzőgyártók által továbbfejlesztett megoldásait vesszük sorra ebben a részben.
Megjelent: 2017. május 17.